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Micro USB插拔力和寿命疲劳分析

有限元: 2021-01-27 11:00:35 阅读数: 2118 分享到:

USB在多次插拔后是否会发生疲劳失效,这是用户使用USB时特别关心的问题。要经过千万次的拔插测试才能了解USB产品这方面的性能吗?


大可不必!采用CAE仿真进行连接器公端卡扣和端子的应力与疲劳寿命分析,就可以了解USB的这方面性能是否合格。


元王通过CAE仿真分析发现,Micro USB在插拔5000次后,插拔力变小,卡扣疲劳寿命偏低,需要改善设计,基于仿真数据改善设计后再次进行分析。


位移插拔力分析


应力分析



疲劳寿命分析



设计优化后的Micro USB公端端子/卡扣的最大等效应力未超出材料的屈服强度,材料安全。卡扣的疲劳寿命偏低,而端子疲劳寿命为10^7次。


深圳市有限元科技有限公司(简称元王)是一家以工程仿真软件开发为核心,集CAE仿真软件二次开发、销售、咨询与技术分析、培训为一体的国家高新技术企业,具备深厚的CAE技术背景和丰富的工程经验。



特别是针对连接器行业,除了提供仿真分析咨询与技术服务,还研发了元王®连接器分析软件,通过仿真模拟分析连接器在拔插力分析、正压力分析、端子保持力分析、连接电阻与温升分析、掀盖作用力分析、Housing强度及变形分析、振动分析、正弦振动分析和冲击分析等方面的性能或工况,其分析结果为连接器的详细结构设计提供依据和优化建议。



与市面上主流国外仿真软件相比,元王®连接器分析软件是为连接器行业量身定制,广泛适用各类连接器产品,不仅价格相对亲民,最重要的是使用门槛低,不需要具备很多有限元知识,操作简单易上手,设计人员可以快速掌握连接器仿真分析,提高产品可靠性,节省开发成本,助力精益研发,帮助企业少走弯路。


元王深耕CAE领域十多年,专业提供全面的连接器行业CAE应用解决方案,欢迎有CAE服务需求的客户前来了解咨询,咨询热线13632683051(微信同号)